良率

完整解釋

良率是製造流程中符合規格、可正常使用的產品或晶粒，占投入或總產出的比例。半導體常談晶圓上可用晶粒的比例，但也可能分成製程良率、組裝良率與最終測試良率。晶粒面積、缺陷密度、設計與測試標準都會影響結果。